Studio del danneggiamento mediante tomografia in luce del sincrotrone: impatto di un cono d’ombra sulla qualità finale delle ricostruzioni

Un’accurata osservazione della geometria tridimensionale di cricche e difetti è necessaria per lo
studio dei meccanismi alla base del processo di danneggiamento. I metodi convenzionali utilizzati a questo
scopo sono distruttivi o non possiedono una sufficiente risoluzione. Le tecniche di imaging che utilizzano la
luce di sincrotrone, ed in particolare la microtomografia (micro-CT) a raggi X, invece, uniscono i vantaggi di una
tecnica non distruttiva ad un’elevata risoluzione spaziale e risultano quindi particolarmente interessanti. Un
limite all’applicazione di questa tecnica è costituito dalla propensione della cricca a richiudersi una volta rimosso
il carico che ha provocato il danneggiamento, superabile attraverso l’impiego di un dispositivo in grado di
esercitare un carico di trazione durante l’acquisizione dei dati. Facendo riferimento al set-up sperimentale della
linea SYRMEP di Elettra, il sincrotrone di Trieste, e tralasciando per il momento i vincoli legati a pesi e
ingombri, è possibile pensare di inserire tra camera di ionizzazione e CCD una macchina per prove di trazione
mono-colonna commerciale, in grado di mantenere aperto il difetto per tutta la durata della tomografia. In
questo lavoro viene valutato l’impatto di questo vincolo sulla qualità finale delle ricostruzioni.